이미지는 참조용입니다.
SN74ABT18646PM
+BOMIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
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제조업체텍사스 인스트루먼트(주)
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제조업체 부품 #SN74ABT18646PM
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데이터시트 SN74ABT18646PM DataSheet
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패키지 LQFP-64
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재고2899
365 1일 품질 보증
7*24 영업 시간 서비스 보증
90-판매 후 1일 보증
정품 보증
사양
| 속성 | 가치 |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package / Case | Bulk,Tray |
| Series | 74ABT |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
