SN74ABT8952DWR

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SN74ABT8952DWR

+BOM

IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

  • 제조업체텍사스 인스트루먼트(주)

  • 제조업체 부품 #SN74ABT8952DWR

  • 패키지 SOIC-28

  • 재고3110

365 1일 품질 보증

7*24 영업 시간 서비스 보증

90-판매 후 1일 보증

정품 보증

사양

속성 가치
Package / Case Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT),Bulk
Series 74ABT
Part Status Obsolete
Logic Type Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 8
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Mounting Type Surface Mount

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