SN74ABTH182646APM

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SN74ABTH182646APM

+BOM

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

365 1일 품질 보증

7*24 영업 시간 서비스 보증

90-판매 후 1일 보증

정품 보증

사양

속성 가치
Supplier Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments
Package Bulk,Tray
Series 74ABTH
ProductStatus Active
LogicType Scan Test Device With Transceivers And Registers
SupplyVoltage 4.5V ~ 5.5V
NumberofBits 18
OperatingTemperature -40°C ~ 85°C
MountingType Surface Mount
Package/Case 64-LQFP

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