SN74ABTH18646APM

이미지는 참조용입니다.

SN74ABTH18646APM

+BOM

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

  • 제조업체텍사스 인스트루먼트(주)

  • 제조업체 부품 #SN74ABTH18646APM

  • 패키지 LQFP-64

  • 재고9891

365 1일 품질 보증

7*24 영업 시간 서비스 보증

90-판매 후 1일 보증

정품 보증

사양

속성 가치
Supplier Texas Instruments
Package / Case Tray
Series 74ABTH
Part Status Active
Logic Type Scan Test Device With Transceivers And Registers
Voltage - Supply 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 18
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Mounting Type Surface Mount

SN74ABTH18646APM과 관련된 제품