이미지는 참조용입니다.
SN74BCT8240ANT
+BOMIC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
-
제조업체텍사스 인스트루먼트(주)
-
제조업체 부품 #SN74BCT8240ANT
-
데이터시트 SN74BCT8240ANT DataSheet
-
재고8286
365 1일 품질 보증
7*24 영업 시간 서비스 보증
90-판매 후 1일 보증
정품 보증
사양
| 속성 | 가치 |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package | Tube,Tube |
| Series | 74BCT |
| ProductStatus | Obsolete |
| LogicType | Scan Test Device with Inverting Buffers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | 0°C ~ 70°C |
| MountingType | Through Hole |
| Package/Case | 24-DIP (0.300, 7.62mm) |
