이미지는 참조용입니다.
SN74BCT8244ADWR
+BOMIC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
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제조업체텍사스 인스트루먼트(주)
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제조업체 부품 #SN74BCT8244ADWR
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재고8267
365 1일 품질 보증
7*24 영업 시간 서비스 보증
90-판매 후 1일 보증
정품 보증
사양
| 속성 | 가치 |
| Supplier | Texas Instruments,Rochester Electronics, LLC |
| Package | Tape & Reel (TR),Bulk |
| Series | 74BCT |
| ProductStatus | Discontinued at Digi-Key |
| LogicType | Scan Test Device with Buffers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | 0°C ~ 70°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) |
