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SN74BCT8245ANTG4
+BOMIC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
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제조업체텍사스 인스트루먼트(주)
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제조업체 부품 #SN74BCT8245ANTG4
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재고8167
365 1일 품질 보증
7*24 영업 시간 서비스 보증
90-판매 후 1일 보증
정품 보증
사양
| 속성 | 가치 |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package | Tube |
| Series | 74BCT |
| ProductStatus | Obsolete |
| LogicType | Scan Test Device with Bus Transceivers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | 0°C ~ 70°C |
| MountingType | Through Hole |
| Package/Case | 24-DIP (0.300, 7.62mm) |
